探測深度

探測深度又稱“勘探深度”，指電阻率法的探測深度。它取決於如下條件：①被探測地質體本身的因素，如：大小、形狀、埋深及與圍岩的電阻率差別；②供電電極距(AB)的大小，③觀測精度，④地形和不均勻體的干擾；⑤外來電場的干擾。如不考慮後面兩個因素，其探測深度主要取決於前三個因素。

基本介紹

• 中文名：探測深度
• 外文名：depth  of investigation
• 又稱：勘探深度
• 指：電阻率法的探測深度

depth of investigation； 計算表明，在AB/2深度以下存在無限延展、電阻率又為無窮大的岩層時，它對地面電場的畸變不超過觀測誤差。所以，AB/2可稱為影響深度。實際上，如水平岩層不太厚，且與上下岩層的電阻率差異不大時，需要比AB/2淺很多才能被發現。電阻率法的實際探測深度通常在AB/10—AB/4之間。—般可按AB/6估算。但是，當礦體較小、埋藏較深時，即使無限增加極距也無法探測到。如對良導球體，當球心埋藏深度超過共半徑的3一4倍時，無論怎樣選擇極距也難以探到。對良導水平柱體，當柱心埋藏深度超過其半徑的5～6倍時，也難以探到。所以，電阻率法的探測深度，主要取決於被探測地質體本身的各種因素。