電法探測深度（depth of investigation）是指電阻率法的探測深度。
基本介紹
- 中文名：電法探測深度
- 外文名：depth of investigation
- 說明：電阻率法的探測深度
- 取決於：被探測地質體本身的因素
它取決於如下條件：①被探測地質體本身的因素，如大小、形狀、埋深及與圍岩的電阻率差別；②供電電極距（AB）的大小；③觀測精度；④地形和不均勻體的干擾；⑤外來電場的干擾。如不考慮後面兩個因素，其探測深度主要取決於前三個因素。計算表明，在AB/2深度以下存在無限延展、電阻率義為無窮大的岩層時，它對地面電場的畸變不超過觀測誤差。所以，AB/2可稱為影響深度。實際上，如水平岩層不太厚，且與上下岩層的電阻率差異不大時，需要比AB/2淺很多才能被發現。電阻率法的實際探測深度通常在AB/10～AB/4之間，一般可按AB/6估算。但是，當礦體較小、埋藏較深時，即使無限增加極距也無法探測到。如對良導球體，當球心埋藏深度超過其半徑的3～4倍時，無論怎樣選擇極距也難以探到。對良導水平柱體，當柱心埋藏深度超過其半徑的5～6倍時，也難以探到。所以,電阻率法的探測深度，主要取決於被探測地質體本身的各種因素。
