掃描透射電子顯微術(scanning transmission electron microscopy)是2019年公布的物理學名詞。
基本介紹
- 中文名:掃描透射電子顯微術
- 外文名:scanning transmission electron microscopy
- 所屬學科:物理學
- 公布時間:2019年
掃描透射電子顯微術(scanning transmission electron microscopy)是2019年公布的物理學名詞。
掃描透射電子顯微術 掃描透射電子顯微術(scanning transmission electron microscopy)是2019年公布的物理學名詞。公布時間 2019年,經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《物理學名詞》第三版。
掃描透射電子顯微鏡是透射電子顯微鏡的一種發展。掃描線圈迫使電子探針在薄膜試樣上掃描,與掃描電子顯微鏡不同之處在於探測器置於試樣下方,探測器接受透射電子束流或彈性散射電子束流,經放大後,在螢光屏上顯示與常規透射電子顯微鏡相對應的掃描透射電子顯微鏡的明場像和暗場像。優點 1. 利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察...
隨著TEM的發展,相應的掃描透射電子顯微鏡技術被重新研究,而在1970年芝加哥大學的阿爾伯特·克魯發明了場發射槍,同時添加了高質量的物鏡從而發明了現代的掃描透射電子顯微鏡。這種設計可以通過環形暗場成像技術來對原子成像。克魯和他的同事發明了冷場電子發射源,同時建造了一台能夠對很薄的碳襯底之上的重原子進行觀察的...
電子顯微學是用電子顯微鏡研究物質的顯微組織、成分和晶體結構的一門科學技術。簡介 電子顯微鏡是用一束電子照射到樣品上並將其組織結構細節放大成像的顯微鏡。根據成像特點,目前廣泛使用的電子顯微鏡有:①透射電子顯微鏡;②掃描電子顯微鏡;③掃描透射電子顯微鏡。透射電子顯微鏡 (transmission electron micro-scopy,簡寫...
常用的電子顯微鏡有透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡。3. 工作原理 電子顯微鏡是根據電子光學原理,利用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡,使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像。1) 透射電子顯微鏡:電子槍提供電子束,電子束穿透樣品後,經聚光鏡透射到載物台的樣本上,並與樣品物質的原子核及核外電子相互作用...
實驗四 透射電子顯微鏡選區電子衍射操作與套用 實驗五 透射電子顯微鏡衍射斑點標定與分析 實驗六 高分辨透射電子顯微術的操作及標定 第5章 透射電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作 實驗一 透射電子顯微鏡能譜儀的結構、原理與分析操作 實驗二 電子能量損失譜結構、原理與分析操作 實驗三 掃描透射電子顯微術的基本原理及...
1949年A·克勞德、K·R·波特和E·皮克爾斯獲得了第一張細胞超顯微結構的電鏡圖。到20世紀50年代,透射電子顯微鏡在生物學的研究中已被廣泛的套用。解析度已由最初的500埃提高到小於2埃。發展 20世紀50年代掃描電子顯微鏡在英國首先製造成功。它是利用物體反射的電子束成象的,相當於光學顯微鏡的反射象。掃描電子...
C4 材料結構的超顯微術研究 1 引言 2 高解析度透射電子顯微鏡及提高解析度的途徑 3 BaTiO3中孿晶界面的原子結構及原子位移的出射波函式重構研究 4 材料結構的物鏡球差校正高解析度透射電子顯微術研究 5 結論 參考文獻 C5 高分辨掃描透射電子顯微學技術——原子解析度原子序數襯度成像 1 引言 2 基本成像原理 3 ...
質厚襯度像、衍射襯度像)、掃描電子顯微術(包括背散射電子衍射和環境掃描顯微鏡)、電子探針和微分析(能譜與波譜)以及掃描探針顯微術(掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡),還定性介紹了高分辨電子顯微術、會聚束衍射、微衍射、電子能量損失譜、能量過濾像、掃描透射顯微術、電子全息術、電子三維重構像和原位透射電鏡...
透射槍掃描電鏡 透射槍掃描電鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2004年01月07日啟用。技術指標 晶格解析度 1.4Å 點解析度 2.4Å 最小電子束直徑1nm 能量解析度約1ev 傾轉角度α=±20度 β=±25度 EDS。主要功能 高分辨辨電子顯微術,電子衍射,會聚束電子衍射,EDS,EELS,羅倫滋,電子全息。
331原子對入射電子的散射34 332散射襯度36 333衍射襯度39 334明場像和暗場像41 335相位襯度43 336掃描透射像和高角暗場像45 337低壓透射電子顯微像46 338高壓透射電子顯微像49 339原位形變顯微術49 34影響圖像解析度的儀器操作因素50 35選區電子衍射...
《透射電子顯微技術新進展 I卷理論和方法(英文)》是1999年清華大學出版社出版的圖書,作者是章效鋒等。內容簡介 目前對電子顯微學的需求已發展到高分辨(0.1納米)。多功能和信息數位化階段。這不僅需要最先進的電子顯微鏡、最佳樣品製備方法等基本要素,也需要相應高水平的實驗技術獲取實驗數據,可需要完善的電子...
本項目中,我們將主要針對硼氮摻雜石墨烯、氮化硼、摻硒硫化鉬等二維晶體開展研究,擬運用低加速電壓球差校正高解析度電子顯微術(HRTEM)和掃描透射電子顯微術(STEM),對同一樣品區域進行拍照;我們將著重針對單原子分析發展像處理理論與方法,定量地確定樣品上每個原子的元素信息、三維坐標;並將運用密度泛函方法對求解的...
這種技術由美國橡樹嶺國家實驗室的研究人員彭尼庫克(S. J. Pennycook )在1988年首次發明採用,此後一直是掃描透射電子顯微術中達到高解析度的一種主要技術。技術特點 與傳統的電子顯微鏡成像技術相比,它有以下一些優點:很大程度的簡化了原子列的位置的確定;它是一種非相干成像過程,在結構測定中避免了相差的問題,...
《納米材料表征》是2005年化學工業出版社出版的圖書,作者是(美國)王中林。內容簡介 本書介紹了納米材料的結構表征方法,主要包括納米粒子的XRD表征、納米粒子透射電子顯微鏡及光譜分析、納米粒子的掃描透射電子顯微術、納米糰簇的掃描探針顯微術、納米材料光譜學和自組裝納米結構材料的核磁共振表征。此外,本書還介紹了...
場發射槍掃描透射電鏡及能量選擇電鏡等,透射電鏡將又一次面臨新的重大突破;掃描電子顯微鏡方面主要有:分析掃描電鏡和X射線能譜儀、X射線波譜儀和電子探針儀、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡、超大試樣室掃描電鏡、環境掃描電鏡、掃描電聲顯微鏡、測長/缺陷檢測掃描電鏡、晶體學取向成像掃描電子顯微術和計算機控制掃描...