原子序數襯度像(Z-contrast)技術一種採用高角環形檢測器收集掃描透射電子顯微鏡(STEM)的衍射模式下的高角度漫散射電子成像的技術。
基本介紹
- 中文名:原子序數襯度像技術
- 外文名:Z-contrast
- 套用:電子顯微
- 發明時間:1988年
原子序數襯度像(Z-contrast)技術一種採用高角環形檢測器收集掃描透射電子顯微鏡(STEM)的衍射模式下的高角度漫散射電子成像的技術。
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