原子序數襯度

原子序數襯度 (Atomic Number/Composition Contrast)是指SEM/TEM中由於試樣表面物質原子序數（或化學成分）差別而形成的襯度。

原子序數襯度：由於試樣表面物質原子序數（或化學成分）差異而形成的襯度，利用對試樣表面原子序數（或化學成分）變化敏感的物理信號作為顯像管的調製信號，可以得到原子序數襯度圖像、被散射電子像、吸收電子像的襯度都包含有原子序數襯度，而特徵x射線像的襯度是原子序數襯度

利用對試樣表面原子序數（或化學成分）變化敏感的物理信號作為顯像管的調製信號，可以得到原子序數襯度圖像。背散射電子像、吸收電子像 的襯度，都包含有原子序數襯度，而特徵 X 射線像的襯度是原子序數襯度。