《透射電子顯微技術新進展 I卷理論和方法（英文）》是1999年清華大學出版社出版的圖書，作者是章效鋒。 基本信息,圖書簡介, 基本信息透射電子顯微技術新進展 I卷 理論和方法(英文) 作者：章效鋒等圖書詳細信息：ISBN：9787302035893定價：58元印次：1-1裝幀：平裝印刷日期：1999-7-16圖書簡介目前對電子顯微學的需求已發展到高分辨（0．1納米）。多功能和信息數位化階段。這不僅需要最先進的電子顯微鏡、最佳樣品製備方法等基本要素，也需要相應高水平的實驗技術獲取實驗數據，可需要完善的電子顯微理論用以解釋這些結構信息。
