掃描賽貝克顯微鏡

掃描賽貝克顯微鏡，是可以在在常溫下觀測到原子內電子云的機械設備。由韓國科學技術院（KAIST）和韓國標準科學研究院研究團隊成功聯合研發出。

基本介紹

• 中文名：掃描賽貝克顯微鏡
• 類型：機械設備

設備功能

2014年4月2日，韓國科學技術院（KAIST）和韓國標準科學研究院研究團隊成功聯合研發出“掃描賽貝克顯微鏡”（SSM，Scanning Seebeck Microscope），在常溫下觀測到原子內電子云。

研發歷史

掃描賽貝克顯微鏡的研究是繼“掃描隧道顯微鏡”（STM，Scanning Tunneling Microscope）33年後再次觀測到電子云。1981年，IBM 瑞士蘇黎士實驗室研製出世界上第一台“掃描隧道顯微鏡”（STM，Scanning Tunneling Microscope）。STM使人類第一次能夠實時觀察單個原子在物質表面的排列狀態和與表面電子行為有關的物化性質。

利用該設備和原理有望解釋納米熱物理現象，並有助於研發下一代熱導材料。該研究成果發表在4月1日的美國物理評論快報（Physical Review Letters）網路版上。