手動微波探針台是一種用於測繪科學技術領域的分析儀器,於2012年3月6日啟用。
基本介紹
- 中文名:手動微波探針台
- 產地:美國
- 學科領域:測繪科學技術
- 啟用日期:2012年3月6日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
手動微波探針台是一種用於測繪科學技術領域的分析儀器,於2012年3月6日啟用。
手動微波探針台是一種用於測繪科學技術領域的分析儀器,於2012年3月6日啟用。技術指標可以測試6英寸以下晶片,以及高倍顯微鏡可以用於觀察晶片結構。1主要功能用於積體電路器件晶片的測試平台,可以測試6英寸以下晶片,以及高倍...
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低溫直流微波探針台是一種用於物理學、材料科學、動力與電氣工程、化學領域的特種檢測儀器,於2013年7月5日啟用。技術指標 技術指標:1、超導磁體垂直最大磁場為2.5T2、溫度範圍:4.2Kto400K3、探針臂行程:Xaxis51mmYaxis25mmZaxis...
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