低溫微波探針台是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2018年12月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:低溫微波探針台
- 產地:中國
- 學科領域:電子與通信技術
- 啟用日期:2018年12月18日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
低溫微波探針台是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2018年12月18日啟用。
低溫微波探針台是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2018年12月18日啟用。技術指標電磁體6KOe, 水平磁場,643雙極。1主要功能在低溫下,材料電學,磁學性能測試量、參數測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微...
高低溫真空微波探針台是一種用於電子與通信技術領域的工藝試驗儀器,於2016年10月16日啟用。中文名 高低溫真空微波探針台 產地 中國香港 學科領域 電子與通信技術 啟用日期 2016年10月16日 所屬類別 工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 半導體積體電路工藝實驗設備 ...
微波探針台 微波探針台是一種用於數學領域的分析儀器,於2013年11月01日啟用。技術指標 8英寸片台,直流到40GHz測試,-55-+200℃變溫範圍。主要功能 微波探針台。
該平台與國內的多個科研院所建立了長期的服務與合作關係,還與安捷倫公司合作建立了微波模組聯合試實驗室。同時該平台也負責支撐室內的各個科研項目,主要承擔高頻器件和電路的在片及封裝模組的高頻S參數測試、Loadpull和建模等工作。先後購置了Cascade Summit 9000高頻微波探針台、Cascade 12000 高低溫微波探針台、SUSS PA...
低溫直流微波探針台是一種用於物理學、材料科學、動力與電氣工程、化學領域的特種檢測儀器,於2013年7月5日啟用。技術指標 技術指標:1、超導磁體垂直最大磁場為2.5T2、溫度範圍:4.2Kto400K3、探針臂行程:Xaxis51mmYaxis25mmZaxis18mm4、使用Z50C-T電纜,系統漏電優於100fA或絕緣電阻大於100GΩ,最高頻率為...
高低溫微波直流探針台 高低溫微波直流探針台是一種用於數學領域的分析儀器,於2012年12月1日啟用。技術指標 Agilent B1500A裝有4個SMU,其中兩個高分辨(HR),兩個高功率(HP)。電流的分辨能力達到了1fA,C-V模組的交流信號頻率為1kHz-5MHz。主要功能 可以進行常溫和變溫條件下的IV、C-V、脈衝IV的測試。
射頻微波探針台 射頻微波探針台是一種用於信息科學與系統科學、信息與系統科學相關工程與技術領域的電子測量儀器,於2015年3月18日啟用。技術指標 S參數測試、交調測試、增益壓縮測試。主要功能 1、用於射頻晶片的S參數測試、交調測試、增益壓縮測試2、用於射頻晶片在高低溫情況下的性能測試。
手動微波探針台 手動微波探針台是一種用於測繪科學技術領域的分析儀器,於2012年3月6日啟用。技術指標 可以測試6英寸以下晶片,以及高倍顯微鏡可以用於觀察晶片結構。主要功能 用於積體電路器件晶片的測試平台,可以測試6英寸以下晶片,以及高倍顯微鏡可用於觀察晶片結構。
金屬和III-V族半導體材料刻蝕的感應耦合電漿(ICP)刻蝕設備;電子束金屬蒸發設備、離子束濺射鍍膜設備、磁控濺射設備、等離子增強化學氣相澱積系統(PECVD)、低壓增強化學氣相澱積系統(LPCVD);離子注入系統、氧化及合金設備、晶片鍵合設備;光波導器件自動對準耦合測試系統、分光光度計、台階儀、低溫微波探針台、...