低溫直流微波探針台是一種用於物理學、材料科學、動力與電氣工程、化學領域的特種檢測儀器，於2013年7月5日啟用。
基本介紹
- 中文名：低溫直流微波探針台
- 產地：美國
- 學科領域：物理學、材料科學、動力與電氣工程、化學
- 啟用日期：2013年7月5日
- 所屬類別：特種檢測儀器 > 電磁檢測儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
技術指標:1、超導磁體垂直最大磁場為2.5T2、溫度範圍：4.2Kto400K3、探針臂行程：Xaxis51mmYaxis25mmZaxis18mm4、使用Z50C-T電纜，系統漏電優於100fA或絕緣電阻大於100GΩ，最高頻率為50MHz5、系統可進行微波實驗，最高測試頻率可達到50GHz。6、光學分辨優於4um，帶CCD相機和計算機顯示器。
主要功能
低溫直流微波探針台是研究半導體的運輸性質的重要設備，主要對半導體器件進行電流-電壓，電容-電壓等參數測量。
