平整度檢驗

平整度檢驗是專門用於檢測各種IC晶片針腳及其平整度（水平直線度、共面度）、間隙、針腳寬度等平整度檢驗簡單設定後，即可自動識別、檢測，無須人員操作

概述

平整度檢驗是專門用於檢測各種IC晶片針腳及其平整度（水平直線度、共面度）、間隙、針腳寬度等平整度檢驗簡單設定後，即可自動識別、檢測，無須人員操作。平整度檢驗儀圖像清晰直觀，可以方便快速準確的檢驗產品的平面度，明顯提高工作效率和產品質量！平整度檢驗在檢測標定平面度時能達到0.01mm以上的精度。可根據檢測要求設定平整度誤差範圍。對不符合要求的工件檢測後輸出控制信號，可用於剔除不合格品。

主要功能

檢測晶片針腳的個數；
可測量晶片針腳的多個位置的幾何尺寸，包括pitch間隔、寬度、高度等；
檢測針腳的共線度等平整度指標；
系統檢測到質量問題時，能發出報警信號，並輸出控制信號；
可對檢查出的所有廢品對應的圖像能夠存儲和查看；
系統有自學習功能，且學習過程操作簡單；
系統可通過RS232接口或乙太網接收上位機控制信號