帶表塞規

帶表塞規，又名OD規或機械式塞規。塞規(BMD)是具有自動顯示、自動定中心功能的高精度測量儀器。這種量規使用方便，適合靜態和動態測量。通過手動測量可以檢測出孔的尺寸偏差和形狀誤差，也可以安裝在測量設備上進行自動檢測。

基本介紹

• 中文名：帶表塞規
• 別名：OD規或機械式塞規。

使用說明

此測量系統具有套用範圍廣、操作簡單、精度高、結構牢固等優點。標準產品中有很多可選擇的基本型號，並提供了可用附屬檔案，以確保可以測量實際套用中所遇到的多數孔徑。

量儀的顯示部分可以是機械錶、數顯表或連線到分析設備的感測器。

測量原理

導向圓柱(4)可使測頭測點(6)位於孔的軸向和徑向中心。研磨出有錐度的測針(3)以1:1的比例將測點的測量行程傳遞給夾緊在手柄(2)上的顯示錶。

塞規的導向圓柱決定了測點在孔中的位置，並保證了高重複精度。如果孔和導向圓柱間的間隙過小或過大，由於縱向或橫向的傾斜，會導致重複精度降低。

不需要特殊的保養。如果需要清潔，則移出測針，使用壓縮空氣和清潔液仔細地清潔塞規體和測針。

請注意：在安裝前，在測針的錐型部分塗油脂（例如凡士林）。在安裝6系列和10系列測針時請確保重新安裝上彈簧(4系列沒有彈簧)

優點

◎測量精度高，重複性可達1μm。

◎可測量的直徑範圍：3～270mm。

◎測量傳輸系統耐用度很高，可以進行10,000,000多次測量循環。

◎結實而獨特的耐衝擊結構。

◎對所有處於測量範圍內的直徑都保證優良的計量學性能。

◎可以與任意測量設備連線（度盤式、數顯式千分表或電子單元）。

◎與任何用於機電套用場合的筆式感測器兼容。

基本型式

S型，用於普通孔測量的標準塞規，由於L1的尺寸較小，因此不適合直接測量孔的邊緣。

D型，用於通孔測量的塞規，這種型式的塞規用於測量工件的通孔。另一個優點是，加長的L1尺寸，可以確保直接測量孔的邊緣。

FB型，用於盲孔測量的塞規，這種型式的塞規通常用於測量孔的底部或測量淺孔。測量淺孔時，導向槽的尺寸應減小或去掉。