套刻標識

晶圓上專門用來測量套刻誤差的圖形被稱為套刻標識。

基本介紹

  • 中文名:套刻標識
  • 外文名:overlay mark
測量套刻誤差的圖形在設計掩模時已經被放置在了指定的區域,通常是在曝光區域的邊緣,又叫“scribeline”或“kerf”區域。最簡單的套刻標識是所謂的套疊方框圖形(frame-in-frame),如圖1所示。方框整體的尺寸是20~50um,線寬是1~3um。這個尺寸保證了它們在光學顯微鏡下能被清楚地分辨出來。套疊方框圖形內部的小方框位於參考層中,外方框位於當前的光刻膠中。
套刻標識
圖1 套疊方框圖形

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