半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度

《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》是2019年4月1日開始實施的一項中國國家標準。

基本介紹

  • 中文名:半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度
  • 發布日期:2018年9月17日
  • 實施日期:2019年4月1日
編制進程,歸口部門,

編制進程

2018年9月17日,《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》發布。
2019年4月1日,《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》實施。

歸口部門

工業和信息化部(電子)

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