《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》是2019年4月1日開始實施的一項中國國家標準。
基本介紹
- 中文名:半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度
- 發布日期:2018年9月17日
- 實施日期:2019年4月1日
編制進程,歸口部門,
編制進程
2018年9月17日,《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》發布。
2019年4月1日,《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》實施。
歸口部門
工業和信息化部(電子)
《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》是2019年4月1日開始實施的一項中國國家標準。
《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》是2019年4月1日開始實施的一項中國國家標準。編制進程2018年9月17日,《半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分:晶片剪下強度》發布。2019年4月1日,《半...
《半導體器件 機械和氣候試驗方法(第1部分):總則(GB/T 4937.1-2006/IEC 60749-1:2002)》由中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會發布,內容翔實,相關知識全面,為方便使用,在原版的基礎上做了一下調整...
2.2.4 濕熱試驗 (47)2.2.5 強加速穩態濕熱試驗 (53)2.3 機械環境試驗 (54)2.3.1 振動試驗 (54)2.3.2 機械衝擊 (74)2.3.3 碰撞試驗 (88)2.3.4 恆定加速度 (93)2.4 水浸漬試驗 (102)2.4.1 水...
《半導體器件機械和氣候試驗方法第23部分:高溫工作壽命》是2023年12月1日開始實施的一項中國國家標準。編制進程 2023年5月23日,《半導體器件機械和氣候試驗方法第23部分:高溫工作壽命》發布。2023年12月1日,《半導體器件機械和氣候試驗...