剖面採樣

剖面採樣（profile sampling）是沿垂直地質體走向的方向進行的系統採樣。在地球化學普查或詳查任務中，為了詳細了解某一地層、侵入岩體、岩體與地層接觸帶、不同方位的構造帶、蝕變帶或礦帶等地質體的地質和地球化學特徵，常常沿著垂直這些地質體走向的方向進行剖面採樣。

基本介紹

• 中文名：剖面採樣
• 外文名：profile sampling
• 簡介：垂直地質體走向進行的系統採樣
• 用途：地球化學普查或詳查任務

對於岩石剖面，應選擇在露頭出露齊全的地段，儘量採集較為新鮮的岩石；避免岩性差異很大的介質混合採集；採樣過程中應對剖面及其兩側的地質地球化學現象進行細緻的觀察與描述。對於土壤剖面應選擇在殘積物連續分布的地段，注意採集基本同一層位的介質，排除運積物的混入。剖面的長短和點位間距由任務要求來決定。