分析電子顯微術

分析電子顯微術是2011年公布的材料科學技術名詞。

中文名稱	分析電子顯微術
英文名稱	analytical electron microscopy，AEM
定　　義	用高能電子束照射樣品，收集、測定和分析樣品局部區域發射出的各種信號的理論和技術。具有很高的空間解析度，設備為分析電子顯微鏡。
套用學科	材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科）

基本介紹

• 中文名：分析電子顯微術
• 外文名：analytical electron microscopy，AEM
• 所屬學科：材料科學技術 
• 公布年度：2011年

定義

用高能電子束照射樣品，收集、測定和分析樣品局部區域發射出的各種信號的理論和技術。具有很高的空間解析度，設備為分析電子顯微鏡。

出處

《材料科學技術名詞》。