掃描電子顯微術

中文名稱	掃描電子顯微術
英文名稱	scanning electron microscopy，SEM
定　　義	電子束以光柵狀掃描方式照射試樣表面，分析入射電子和試樣表面物質相互作用產生的各種信息來研究試樣表面微區形貌、成分和晶體學性質的一種電子顯微術。
套用學科	材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科）