《微束分析掃描電子顯微術術語》是2009年中國標準出版社出版的書籍，作者是中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會。
基本介紹
- 中文名：微束分析 掃描電子顯微術 術語
- 作者：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
- 出版社：中國標準出版社
- 出版時間：2009年7月1日
- 頁數：27 頁
- 開本：16 開
- ISBN：155066137506
- 外文名：Microbeam analysis-Scanning Electron Microscopy-Vocabulary
- 語種：簡體中文
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《微束分析 掃描電子顯微術 術語(GB/T 23414-2009/ISO 22493:2008)》等同採用國際標準ISO 22493：2008《微束分析掃描電子顯微術術語》（英文版）。為了便於使用，本標準做了下列編輯性修改：“本國際標準”一詞改為“本標準”；刪除國際標準的前言。“掃描電子顯微鏡”簡稱“掃描電鏡”。增加了中文索引。
圖書目錄
前言
引言
1 範圍
2縮略語
3 SEM物理基礎術語
4 SEM儀器術語
5 SEM成像和圖像處理術語
6 SEM圖像詮釋和分析術語
7 SEM圖像放大倍率和解析度校正及測量術語
參考文獻
中文索引
英文索引
