全自動殘餘應力檢測系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年6月9日啟用。
基本介紹
- 中文名：全自動殘餘應力檢測系統
- 產地：日本
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2017年6月9日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
1、功率：30Kv，1.0mA；2、探測器：採用圓形的全二維面探測器（直徑60mm）；3、支持衍射峰和德拜環兩種方式；4、雷射輔助定位系統+內置CCD攝像頭；5、單次X射線入射可採集衍射數據量：500個；6、樣品測試時間：標樣測試時間為90s；7、可以測試材料的晶粒尺寸和織構等相關信息。8、粗晶材料可以採用震盪單元。
主要功能
可以用於檢測多晶體金屬材料表面的殘餘應力；用於檢測材料的晶粒尺寸和織構信息。
