光電子能譜(photoelectron spectroscopy),利用光電效應的原理測量單色輻射從樣品上打出來的光電子的動能(並由此測定其結合能)、光電子強度和這些電子的角分布,並套用...
X射線光電子能譜技術(XPS)是電子材料 與元器件顯微分析中的一種先進分析技術,而且是和俄歇電子能譜技術(AES)常常配合使用的分析技術。由於它可以比俄歇電子能譜...
光電子能譜儀(photoelectron spectrograph)是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關係,由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。可分析固、液、氣樣品中除氫以外的...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子...
電子能譜分析法是指採用單色光源(如X射線、紫外光)或電子束去照射樣品,使樣品中電子受到激發而發射出來,然後測量這些電子的產額(強度)對其能量的分布,從中獲得有...
X射線光電子能譜學(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱XPS)XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析,其特點在光電子來自表面...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子...
電子能譜(photoelectron spectroscopy),利用光電效應的原理測量單色輻射從樣品上打出來的光電子的動能(並由此測定其結合能)、光電子強度和這些電子的角分布,並套用這些...
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,...
中文名稱 X射線光電子能譜法 英文名稱 X-ray photoelectron spectroscopy,XPS 定義 以單色X射線為光源,測量並研究光電離過程發射出的光電子能量及相關特徵的方法...
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關係,由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素,還可研究...
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位:全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位:全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位:北京大學...
由光學和電子學結合形成的技術學科。電磁波範圍包括X射線、紫外光、可見光和紅外線。光電子學涉及將這些輻射的光圖像、信號或能量轉換成電信號或電能,並進行處理或...
X射線光電子光譜學 (XPS)是一種量化的光譜學技術,用於測量材料中各種元素的經驗化學式,化學態和電子態。用x射線束照射材料的同時,測量動能和從材料表面1納米到10...
電子科技大學材料分析中心擁有透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、X射線光電子能譜(XPS)、俄歇電子能譜(AES)、X射線衍射(XRD)等大型現代精密分析表征設備。[2] ...
俄歇電子能譜學(Auger electron spectroscopy,簡稱AES),是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要藉由俄歇效應進行分析而命名之。產生於受激發的原子的外層...
鈦合金經離子注入後,提高了顯微硬度,顯著地降低了滑動摩擦係數,有效地提高了耐磨性.為探明其改性機理,對注入與未注入樣品進行了X射線光電子能譜(XPS)分析,獲得...