光螢光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於1999年12月01日啟用。
基本介紹
- 中文名：光螢光譜儀
- 產地：英國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：1999年12月01日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 光譜成像儀
技術指標,主要功能,
技術指標
測試溫度：10K-300K；探測範圍：0.67-1.8微米。
主要功能
半導體材料的發光特性。
光螢光譜儀
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