快速掃描光螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年1月1日啟用。 基本介紹 中文名:快速掃描光螢光譜儀產地:美國學科領域:材料科學啟用日期:2003年1月1日所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 技術指標,主要功能, 技術指標測試範圍波長340nm~1700nm。主要功能測量發光材料發光特性。