快速掃描光螢光譜儀

快速掃描光螢光譜儀

快速掃描光螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年1月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:快速掃描光螢光譜儀
  • 產地:美國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2003年1月1日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

測試範圍波長340nm~1700nm。

主要功能

測量發光材料發光特性。

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