快速掃描光螢光譜儀

快速掃描光螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：快速掃描光螢光譜儀
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2003年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

測試範圍波長340nm~1700nm。

主要功能

測量發光材料發光特性。