光發射電子顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年9月13日啟用。
基本介紹
- 中文名:光發射電子顯微鏡
- 產地:德國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2017年9月13日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
分析腔真空達到2e-10 mbar;PEEM成像時,樣品高壓為15 KV。PEEM成像的空間解析度達到10nm。 樣品架能夠加熱到1300K以上的高溫。
主要功能
PEEM成像與樣品表面的局域功函式直接相關,成像速度非常快,可以用於表面生長、表面相變、表面反應等過程的原位動態研究。