像差校正電鏡(aberration-corrected electron microscope )是2018年公布的生物物理學名詞。
基本介紹
- 中文名:像差校正電鏡
- 外文名:aberration-corrected electron microscope
- 所屬學科:生物物理學
- 公布時間:2018年
像差校正電鏡(aberration-corrected electron microscope )是2018年公布的生物物理學名詞。
像差校正電鏡(aberration-corrected electron microscope )是2018年公布的生物物理學名詞。定義為了消除像差使電子顯微鏡的分辨力達到理論極限,在電鏡中安裝名為“像差校正器”的輔助“...
像差校正透射電子顯微鏡是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2017年11月29日啟用。技術指標 300kV時STEM HAADF和TEM點解析度為0.063nm;可在300,200,120,80,60kV5個電壓下操作。主要功能 原子分辨成像,原子結構分析,成分...
自主設計的世界首套原位超快像差糾正低能電子/光電子/掃描隧道顯微鏡聯合系統、世界上最先進的FEI Titan ChemiSTEM球差校正透射電子顯微鏡、CAMECA LEAP4000HR三維原子探針、國內第一套三維電子背散射衍射系統,還有多台透射電鏡、掃描電鏡和...
FEI Titan 80-300 球差校正電鏡;JEOL 2010F場發射透射電子顯微鏡;TECNAI G 20透射電子顯微鏡;JEOL 2011透射電子顯微鏡;JEOL 200CX透射電子顯微鏡;HITACHI S-5500 場發射掃描電子顯微鏡;HITACHI S-4500 場發射掃描電子顯微鏡;JEOL ...
第四節 電磁透鏡的像差 第五節 電子顯微鏡的類型 第二章 透射電子顯微鏡 第一節 透射電子顯微鏡的發展簡史 第二節 透射電子顯微鏡的基本結構 第三節 透射電鏡的成像原理 第四節 冷凍電鏡和球差色差校正透射電鏡 第三章 掃描電子...
本項目以像差校正電鏡為平台,把超高分辨電子顯微學和密度泛函第一原理計算有機地結合起來,發展在亞埃尺度系統地研究固體表面結構與性能的有效方法,並將其套用到有重要工業背景的複雜固體表面,探索複雜表面的結構特徵,表面結構與催化性能...
克努特·烏爾班(德語:Knut Urban,1941年6月25日-),出生於斯圖加特,德國物理學家。自1987年起任於利希研究中心微結構研究所主任。2011年獲沃爾夫物理學獎。烏爾班的主要研究領域集中在像差校正透射電子顯微鏡(包括有關工具和控制...
校正電子透鏡的主要像差是人們長期追求的目標。經過50多年的努力,1990年Rose提出用六極校正器校正透鏡像差得到無像差電子光學系統的方法。最近在CM200ST場發射槍200kV透射電鏡上增加了這種六極校正器,研製成世界上第一台像差校正電子...
針對功能氧化物中氧離子的輸運機制進行原子表征,對功能氧化物中的結構相變機製取得深入理解,利用像差校正電鏡捕捉到CeO2納米顆粒中氧原子的輸運通道; 摸索開展液固兩相相變反應池,發現極性晶體BeO在范德瓦爾斯外延作用下存在動力學穩定...
作為全國最頂尖的電子顯微鏡中心之一,重慶大學電子顯微鏡中心不但擁有全球空間分辨能力最高的商業透射電鏡,有其自主研發的世界首台具有三維晶體學與三維位錯表征能力的透射電鏡,以及世界首套像差校正超快自旋極化低能電子顯微鏡,填補了全球...
2.2像差校正透射電鏡的基本原理 2.3掃描透射電鏡的成像原理 2.4電子能量損失譜 2.4.1電子能量損失譜的基本原理 2.4.2EELS譜的套用 2.5X射線能譜 2.6電子的磁手性二向色性技術 第3章YMnO3中非對稱的二次電子產額 3.1簡介...
此時正焦情況調節消像散器的方位和大小,直至圖像最清晰為止。然後從做欠焦,正焦,過焦操作。如果圖像沒有被拉長說明象散已經被消除。此時可進行聚焦,由於掃描電鏡在改變放大倍率時候焦點不變,因此,聚焦時候通常把放大倍數放在拍攝或者...
1975年,姚駿恩指導/參加研製完成中國第一台掃描電鏡(DX-3型)。1976—1977年,姚駿恩負責研製X射線波譜儀,並和同軸光學顯微鏡一起配裝在掃描電鏡上,發展成DX-3A型分析掃描電鏡。1984年,姚駿恩和北京燕山科學儀器開發公司共同研發的陰極...
透射電子像 透射電子像是2003年公布的機械工程名詞。定義 在電子顯微鏡中,用透過樣品的電子所成的像。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。