像差校正透射電子顯微鏡

像差校正透射電子顯微鏡是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2017年11月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：像差校正透射電子顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、化學
• 啟用日期：2017年11月29日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

300kV時STEM HAADF和TEM點解析度為0.063nm；可在300，200，120，80，60kV5個電壓下操作。

主要功能

原子分辨成像，原子結構分析，成分分析。