低溫光學恆溫器系統

低溫光學恆溫器系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2015年7月21日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫光學恆溫器系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2015年7月21日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 光學儀器檢具檢定裝置

技術指標

系統由控制器、低溫腔、制冷機、壓縮機、樣品腔、筆記本電腦（系統軟體兼容）組成。其中：（1）控制器：用於控制壓縮機和制冷機的電信號控制。包括氣體閥門，升降溫，充氣，抽真空。（2）低溫腔: 通過與控制器的抽真空和與制冷機的連線，給樣品提供低溫和真空環境。（3）制冷機: 配合壓縮機使用，壓縮的氦氣在膨脹時，吸收熱量，使得冷頭得到冷量。（4）壓縮機 ：用於壓縮氦氣來產生冷量。（5）樣品腔：提供光學視窗和樣品裝載平台。

主要功能

用於納米物質在低溫環境下光學性能的測量。該設備的核心技術特點是降溫過程樣品台無漂移，因而特別適合於測量微小的納米尺度材料。其可以用於低溫下的光學吸收譜、拉曼散射譜、瑞麗散射譜、光致螢光譜等。