低溫恆溫器磁光探測系統

低溫恆溫器磁光探測系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2010年11月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫恆溫器磁光探測系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2010年11月19日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

可24小時持續工作；製冷溫度＜4.5k;振動小於10nm；具有光學視窗。

主要功能

用於提供小於4.5k的極低溫環境，同時要求極低的振動；許多實驗需要把樣品放置在極低溫下才能保持良好性質。