低溫磁光克爾測量系統

低溫磁光克爾測量系統是一種用於物理學領域的儀器，於2012年10月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫磁光克爾測量系統
• 產地：英國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2012年10月22日

技術指標

測量樣品的溫度範圍4.2-500K，四極磁體最大提供1000 Oe左右的磁場，兩級磁體最大提供5000 Oe左右的磁場，靈敏度：10-12emu的磁矩都能被系統探測到。聚焦的雷射點的位置精度可以小於1μm。

主要功能

磁光克爾測量系統NanoMOKE2TM對於縱向、橫向以及極化磁光克爾效應都非常靈敏，是研究與磁性相關的薄膜及其磁性微結構最理想的測量工具。磁場低溫恆溫器提供了一個可變溫的樣品平台，使測量樣品的溫度範圍擴展到4.2-500K。這是進行變溫下的研究如：磁性納米技術、自旋/磁電子學、磁性隨機存儲器、GMR/TMR、記錄磁頭、磁性薄膜、特殊磁介質和磁場感測器等的重要平台。