三維雷射掃瞄器系統

三維雷射掃瞄器系統

三維雷射掃瞄器系統是一種用於物理學領域的電子測量儀器,於2015年12月23日啟用。

基本介紹

  • 中文名:三維雷射掃瞄器系統
  • 產地:瑞士
  • 學科領域:物理學
  • 啟用日期:2015年12月23日
  • 所屬類別:電子測量儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

掃描模式:測距式 掃描犁想凝波長:532 nm 垂直最大掃描範圍體滲章:270° 水平掃描範圍:360° 掃描距歸鑽連離:600米 最小掃描距離:寒驗微束0.1米 整體重量:13kg 整合相機挨鞏祝能輸出真彩色照片,像素夜舟判籃1200萬 。地犁

主要功能

現場快速三維建模。

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