三維雷射掃描測量系統是一種用於測繪科學技術領域的物理性能測試儀器,於2012年09月01日啟用。
基本介紹
- 中文名:三維雷射掃描測量系統
- 產地:瑞士
- 學科領域:測繪科學技術
- 啟用日期:2012年09月01日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 大地測量儀器
三維雷射掃描測量系統是一種用於測繪科學技術領域的物理性能測試儀器,於2012年09月01日啟用。
三維雷射掃描測量系統是一種用於測繪科學技術領域的物理性能測試儀器,於2012年09月01日啟用。技術指標 儀器精度:點位6mm;距離4mm;角度12秒;模型表面精度2mm;標靶獲取精度2mm;雙軸傾斜感測器1秒解析度;補償範圍5分;精度1.5秒。主要...
高清晰三維雷射測量系統是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2011年12月1日啟用。技術指標 a、掃描視場角:水平360°;豎直270° 達到要求。b、最小採樣密度:1mm。 可以達到1mm精度。C、掃描距離:0.5米-300米。 最遠可以達到300m...
三維雷射掃描測繪系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2010年08月05日啟用。技術指標 最短測距範圍:3m:最大測程:1500m:模型化精度3mm:定值精度8mm。主要功能 大長度、長距離以及三維位置的精密測量、測繪。
它是利用雷射測距的原理,通過記錄被測物體表面大量的密集的點的三維坐標、反射率和紋理等信息,可快速復建出被測目標的三維模型及線、面、體等各種圖件數據。由於三維雷射掃描系統可以密集地大量獲取目標對象的數據點,因此相對於傳統的單...
Riegl LPM-321是目前市場上射程最遠的高精度三維雷射掃描測量系統。及時在不設反射片的情況下,它也能對距離6000m的物體進行高精度三維雷射掃描。 Riegl LPM-321的雷射掃瞄器採用了Riegl自主研發的、最先進的全數位訊號處理和回波全波形...
三維雷射掃描系統是一種用於機械工程領域的儀器,於2015年12月04日啟用。技術指標 光源:7組十字交叉陣列雷射線(+1額外一束單獨雷射);解析度:0.050 毫米,可在軟體中快速設定,無需更換鏡頭;精度最高:0.030 毫米;體積精度:0....
三維光學測量系統是採用光束進行測量的系統,具有非接觸式的優點。這種系統也稱三維藍光掃描儀,根據感測方法不同,分三維藍光掃描儀,雷射三維掃描儀,和CT斷層掃描儀等。中文名 三維光學測量系統 測量費用 適中 探頭狀況 不易磨損 測量速度...
傾斜感測器內置,專用於掃瞄器垂直位置變化定位。內置同步計時器實時同步。主要功能 建築物三維建模和正射影像測量,礦山快速三維測量和礦山監測,隧道工程測量,地形測量和滑坡監測,考古和文物古蹟建檔,數字三維城市建模和移動雷射掃描系統。
三維雷射掃描儀系統是一種用於物理學領域的電子測量儀器,於2015年12月23日啟用。技術指標 掃描模式:測距式 掃描波長:532 nm 垂直最大掃描範圍:270° 水平掃描範圍:360° 掃描距離:600米 最小掃描距離:0.1米 整體重量:13kg ...
機載三維雷射掃描系統集雷射 、全球定位系統(GPS)和慣性導航系統 (IMU)等多種尖端技術於一身,是一項先進的三維航空遙感技術。 該系統主要包括空中測量平台、雷射系統、全球定位系統(GPS)和慣導系統(INS)、小幅面數位相機(DSS)等其他...
基本介紹 編輯 三維點雲掃描系統 與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃描儀相比,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強,廣泛適用於各種需求三維數據的行業,如汽車工業、飛機工業、機車外殼及內飾、家電,雕塑等。
光學測量系統高精度三維雷射掃描儀是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 單點重複精度:0.055mm;體積精度:0.058--0.085mm;x、y、z 軸的解析度: 0.1 mm;測量模式:靜態和動態;點雲無分層,掃描...
地面三維雷射掃描系統 編輯 討論 上傳視頻 地面三維雷射掃描系統是一種用於測繪科學技術領域的分析儀器,於2008年05月03日啟用。中文名地面三維雷射掃描系統 產地瑞士學科領域測繪科學技術 啟用日期...
道路三維雷射掃描系統是一種用於交通運輸工程、測繪科學技術領域的雷射器,於2015年12月15日啟用。技術指標 三維雷射掃描儀;組合導航系統;相關軟體。主要功能 道路路線,路面,交通標誌標線和交通周邊設施的三維信息採集與建模。
三維雷射掃描儀成像系統是一種用於林學領域的分析儀器,於2009年12月22日啟用。技術指標 人眼安全級雷射,測量範圍大(可達350~1000m),最小距離2m,重複掃描精度可達4mm,測量速度11000pts/s,掃描範圍0°-80°,測量點分布非常規則...
攜帶型三維雷射掃描系統是一種用於測繪科學技術領域的大氣探測儀器,於2019年7月1日啟用。技術指標 系統參數: 測量範圍:室內:<30m(被測表面雷射反射率90%) 室外:<20m 數據採集速率:43200 point/s 解析度:水平 0.625°,豎直 ...
雷射掃描式 掃描範圍:比較低。優點: 掃描速度快,便攜,方便,適用於對精度要求不高的物體。缺點:掃描精度較低。測量原理 結構光掃瞄器原理 光學三維掃描系統是將光柵連續投射到物體表面,攝像頭同步採集圖像,然後對圖像進行計算,並...
空區三維雷射掃描系統是一種用於礦山工程技術領域的物理性能測試儀器,於2012年8月20日啟用。技術指標 測量絕對精度是5cm,重複精度/解析度是1cm。 最大測程是150m。 掃描採樣率高達 650,000 次讀數/小時(200 次讀數/秒)。 設備的...
210mm x 210mm 操作溫度範圍: 5-40 °C。主要功能 包括MetraSCAN-R雷射掃描測頭與 C-Track 測頭跟蹤系統,可與機器人配合使用,實現工件的自動化檢測,也可以作為獨立的手持式掃瞄器使用,主要用於複雜曲面類零件的檢測與逆向工程。
手持三維雷射掃描儀是一種用於農學、林學領域的雷射器,於2015年5月1日啟用。技術指標 三維解析度 高達0.5 mm 三維精度 高達0.05mm XY方向點密度 3mm(1m處,單次掃描)線上掃描模式下,則無限制 電池連續作業時長 1h 雷射等級 ...