《一種陣列基板的測試裝置及其測試方法》是深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司於2021年3月2日申請的專利，該專利公布號為CN112987352A，專利公布日為2021年6月18日，發明人是李維。
基本介紹
- 中文名：一種陣列基板的測試裝置及其測試方法
- 授權公告號：CN112987352A
- 授權公告日：2021年6月18日
- 申請號：2021102311804
- 申請日：2021.03.02
- 申請人：深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
- 地址：518132廣東省深圳市光明新區公明街道塘明大道9-2號
- 發明人：李維
- Int. Cl.：G02F1/13(2006.01)I
- 專利代理機構：深圳紫藤智慧財產權代理有限公司44570
- 代理人：遠明
專利摘要
本發明提供了一種陣列基板的測試裝置及其測試方法，該測試裝置的測試墊位於同一測試區中的兩排陣列基板的相背兩側，且與陣列基板對應且電性連線，檢測模組包括液晶層和位於液晶層上的光電感測器，液晶層用於測試陣列基板的電場，光電感測器用於採集和評估液晶層出射光線的強度；本發明中的同一測試區內的兩排陣列基板之間沒有設定測試墊，避免測試墊與光學檢測模組的信號容易發生干涉的現象，對同一測試區內的所有測試墊同時通入驅動信號，一次性檢測兩排陣列基板的電場和出射光線的強度，能大幅改善中小尺寸陣列基板的測試時間，能節省移動設備的移動和校準次數，還能提高檢測效率。
