φ 掃描是2016年公布的化學名詞。
基本介紹
- 中文名:φ 掃描
- 外文名: phi scan
- 所屬學科:化學_物理化學_晶體化學
- 公布年度: 2016年
φ 掃描是2016年公布的化學名詞。
φ 掃描是2016年公布的化學名詞。 定義在單晶膜或織構膜的研究中,樣品平面以其垂直軸,即φ圓(相當於四圓衍射儀的φ圓)的轉軸為軸,進行轉動,而衍射幾何光路固定不動,且始終針對非擇優晶面的特定...
《利用STAR束流能量掃描實驗中的Φ介子產生探測QCD相結構》是依託南京大學,由張小平擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 對量子色動力學(QCD)相結構和新的物質形態──夸克膠子電漿──的研究,是基礎科學的前沿性熱點研究課題。φ介子產生是研究QCD 相結構的重要工具,其橢圓流參數是研究QCD物質部...
現在國內外最常用的是雷射掃描法進行測量的產品,另外還有CCD光電測量方法進行測量。其中雷射掃描測量法的測量精度更高,但是雷射掃描測量法比較適合於靜態的高精度測量,當用於動態測量時會由於被測軋材的晃動導致衍射條紋快速移動而失準,也難以快速得到測量結果,同時還具有結構複雜、格昂貴、旋轉部件易損等缺點,CCD...
。主要功能:相分析、搖擺曲線、φ掃描測量;薄膜反射率測定。主要功能 額定功率2.2kw,角度精度萬分之一度,高分辨光路解析度12秒(角度)。測量光路實行模組化,變換方便.對粉末樣品,單晶和薄膜樣品都可以進行測試.可進行相分析、搖擺曲線、φ掃描測量;織構和應力測量;薄膜厚度和反射率測定;高分辨衍射和Q掃描等.。
8.4.2多重φ掃描190 8.4.3φ和ω聯用掃描192 8.4.4測角儀φ旋轉方向192 8.4.5透射模式193 8.4.6與點探測器比較196 8.5織構數據處理196 8.5.1 2θ積分196 8.5.2吸收校正198 8.5.3極圖內插200 8.5.4極圖對稱性200 8.5.5極圖歸一化200 8.6取向分布函式200 8.6.1歐拉角和歐拉空間201 ...
晶體隧道二極體,超導隧道結等固體器件都是基於量子隧道效應的原理製成的。掃描隧道顯微鏡(STM)則更是隧道效應的一項巨大技術套用。STM的原理是基於電子的隧道效應.金屬中的電子在運動到金屬表面時會受到表面勢壘的阻擋.一般 情況下,電子的動能要大大小於勢壘的勢能.由於隧道效應,電子仍有一定的幾率穿透表面勢壘的阻擋...
通過快速長大吞併基體及其他取向的晶粒。 7. 最佳化了工藝:採用700-1200℃兩步退火處理為帶材的最佳退火工藝,獲得基帶的ω掃描和φ掃描的FWHM值最小(分別為4°和5.7°)。 項目研究成果極大的豐富了面心立方金屬的回覆、再結晶機理內容,同時為工業生產製備高性能高溫超導材料用金屬基帶提供理論指導。
這種超強雷射射線有諸多用途,其中包括醫學成像,放射性療法,以及正電子放射斷層造影術(PET)掃描。同時這種射線源還可以被用來監視密封存放的核廢料是否安全。另外,由於這種雷射脈衝極短,持續時間僅1千萬億分之一秒,快到足以捕獲原子核對激發的反應,這就使它非常適合用於實驗室中的原子核研究。此次研究中使用的...
1.掃描探針顯微鏡(spm,即scanning probe microscope)2. 浮游粒子狀物質 3.自相位調製 Self-phase Modulation ( SPM):信號光強的瞬時變化引起其自身的相位調製,即自相位調製:Δφ(2πn2Leff/λAeff)P 相位調製導致的頻率調製為:從而使信號頻譜展寬。在單波長系統中光強變化導致相位變化時,自相位調製效應使信號...
由於現代單色儀可具有很寬的光譜範圍(UV- IR),高光譜解析度(到0.001nm),自動波長掃描,完整的電腦控制功能極易與其他周邊設備融合為高性能自動測試系統,使用電腦自動掃描多光柵單色儀已成為光譜研究的首選。當一束複合光線進入單色儀的入射狹縫,首先由光學準直鏡匯聚成平行光,再通過衍射光柵色散為分開的波長(...
可根據需要,利用單色器選取一定波長和頻寬的單色光進行單色光實驗,這稱為同步輻射波長的可調性(tunability),特別適合開展針對特定波長的光與物質相互作用研究(如吸收譜)和連續改變波長進行掃描的譜學研究。高度準直性(方向性)同步輻射的發散角小,光線幾乎是平行的,宜於遠距離傳輸和開展對光的入射角一致性有...
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態錄製:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫...
2.φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 3.缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 4.缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 5.缺陷缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 6.曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 7.B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫切面 聲光報警 1.閘門報警:進波報警、失波...
χ角可以在0—360度範圍內調節測角頭的旋轉軸方向,而φ角是測角頭上的旋轉角,可進一步在0—360度範圍內調節晶體及其衍射點的方位。2θ角可調節計數器測量的衍射光束與入射X射線之間的夾角,即布拉格角。ω角可調節測角頭繞垂直於水平面的旋轉軸的旋轉。同時,在測量衍射強度時對ω角進行掃描,一般範圍很小,在...
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態錄製:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫...
●φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 ●動態錄製:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 ●缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S ●缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 ●缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 ●曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 ●B型掃描:實時掃...
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態錄製:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫...
當式中B0=1.5T, Y=0.54, Hct=0.4, θ=0時,使用TE=56 ms,此時產生靜脈血的相位信號φ=π,與背景組織相反,於是就產生了最大的信號抵消效應。從而可以使比體素還小的血管影顯示出來。對比劑對磁敏感成像的影響 SWI掃描中使用對比劑不但可縮短靜脈的T1時間,而且在不影響圖像質量的前提下,對比劑的...
將安裝在抓鬥式卸船機的駕駛室下方,雷射器垂直向下進行掃描。系統就緒以後,由控制系統發出啟動命令。雷射器高速發出短促雷射脈衝,對下方區域以極小的角度解析度逐點進行測量。大量的測量數據點被軟體採集後,被轉化為三維空間內的點雲數據,再通過特殊的數據處理算法,將雷射器採集的數據轉換為物料的位置和輪廓信息。...
α為掃描角, φ為偏航角, ﹒φ為偏航角速度, θ為俯仰角, ﹒θ為俯仰角速度, 飛行速度為V , 飛行高度H 。相機採用光學式迴轉反射鏡法補償前向像移、飛行器俯仰及偏航引起的像移, 反射鏡旋轉速率ω定為 採用旋轉編碼器外殼的方法補償相機橫滾產生的像移。設橫滾速度為φ, 編碼器的軸與鏡筒連線,編碼器外殼...
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態記錄:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫...
φ值計算:直探頭鍛件探傷,找準缺陷最高波自動換算孔徑ф值;10個獨立探傷通道,可自由輸入並存儲任意行業的探傷標準,現場探傷無需攜帶試塊;BSM320數字超音波探傷儀可自由存儲、回放300幅A掃波形及數據;DAC、AVG曲線自動生成並可以分段製作,取樣點不受限制,並可進行修正與補償;B掃描功能,清晰顯示缺陷縱截面形狀 ...
(2) CFS模式:固定終態譜(Constant Final-state Spectra)實驗,即用光子能量掃描而恆定檢測某一終態動能的光電子譜,可以用來測量界面形成過程中的表面能帶結構和能帶彎曲。(3) CIS模式:固定初態譜(Constant Initial-state Spectra)實驗,即選擇並固定使芯能級到空表面態躍遷最強的初態能量,將光子能量和檢測光電子...
2. φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 3. 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 4. 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 5. 缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 6. 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 7. B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫切面 聲光報警 1....
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態記錄:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷...
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態記錄:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫...
為了偵察目標特性,往往使用多個頻率或較寬頻譜(包括具有特殊分布形狀的頻譜)的信號,或使用掃頻和波束掃描技術以增加信息量,並可結合套用成象技術使之具有成象功能,如綜合孔徑雷達。還可利用雷達來探測雲層乃至月球的表面等。此外,為了探測地下和水下目標和偵察隱身飛機,又發展了較低頻率的單脈衝雷達。由於對農業...
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態記錄:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷橫...
φ值計算:直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算 動態記錄:實時動態錄製波形,並可存儲、回放 缺陷定位:實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S 缺陷定量:實時顯示SL、EL、GL、RL定量值 實時顯示孔狀缺陷Φ值 缺陷缺陷定性:通過波形,人工經驗判斷 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算 B型掃描:實時掃查,描述缺陷...
1.掃描探針顯微鏡(spm,即scanning probe microscope)2. 浮游粒子狀物質 3.自相位調製 Self-phase Modulation ( SPM):信號光強的瞬時變化引起其自身的相位調製,即自相位調製:Δφ(2πn2Leff/λAeff)P 相位調製導致的頻率調製為:從而使信號頻譜展寬。在單波長系統中光強變化導致相位變化時,自相位調製效應使信號...