Z掃描

由SheikBahae等人最先提出的雷射Z掃描技術的實驗裝置如圖所示。在緊聚焦配置下,採用高斯光束入射,改變樣品在圖中光軸(Z軸)上的位置,在遠場測量通過一個位於光軸上的有限孔徑A的透射率T,得到T-z函式曲線即Z掃描曲線。

基本介紹

  • 中文名:Z掃描
  • 最先提出:SheikBahae等人
  • 入射高斯光束
  • 視為:一個焦距可變的薄透鏡
Z掃描
高斯光束入射時,對於一個具有負非線性係數的薄介質,可將其視為一個焦距可變的薄透鏡,取透鏡聚焦後的焦點為z軸的原點。當非線性介質從-z向原點移動時,開始光強較低,可忽略非線性引致的光折射,因此由孔徑A處測得的透過率T保持相對不變,為系統的線性透過率。當樣品掃描至原點附近時,因光強的增大使非線性引致的光折射效應顯著加強,此時樣品相當於一個負透鏡將光束準直,使孔徑A處的光束變窄,導致測量的透過率增加,因而在z<0一側接近z=0處,T-z曲線呈現峰值;當非線性介質移過原點O時,樣品的自散焦作用將導致孔徑A處的光束展寬,造成透過率減小,同理自散焦作用在近z=0處才最為明顯,使得T-z曲線呈現谷值;在原點處,遠場透射率與線性值相同。由上述分析,可定性地得到Z掃描曲線,它呈先峰後谷形狀。而一個具有正非線性係數的光學非線性樣品其Z掃描曲線則呈現出先谷後峰形狀因此,由Z掃描曲線的形狀即可以確定材料非線性係數的符號。進一步的理論分析還可以得到非線性係數的大小。

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們