Z掃描測試系統

Z掃描測試系統

Z掃描測試系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2016年11月20日啟用。

基本介紹

  • 中文名:Z掃描測試系統
  • 產地:中國
  • 學科領域:物理學
  • 啟用日期:2016年11月20日
  • 所屬類別:物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

Hyperion-50-III皮秒紫外雷射器技術要求如下:1、脈衝寬度(FWHM) ≤50ps, 2、重複頻率 10Hz, 3、能量1064nm 60mJ, 532nm 25mJ, 355nm 15mJ, 4、能量穩定性 ±2.0% RMS,5、光斑直徑(1/e2) 8mm, 6、光斑模式TEM00 或平頂7、光斑發散角 (1/e2) <1 mrad, 8、偏振比 100:1, 9、光束指向穩定性 ±30 μrad 10、預熱時間 <5 分鐘; Z-scan測試系統能夠完成材料非線性吸收、光限幅等非線性特性測量,並進行測試過程自動化,能夠自動記錄測試數據供分析。

主要功能

Z-掃描系統作為一種研究材料非線性光學特性的有效手段,具有測量速度快、光路簡單易搭建,光路易調整,能夠同時測量材料實部和虛部等優點。

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