Z掃描測試系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2016年11月20日啟用。
基本介紹
- 中文名：Z掃描測試系統
- 產地：中國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2016年11月20日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
Hyperion-50-III皮秒紫外雷射器技術要求如下：1、脈衝寬度(FWHM) ≤50ps, 2、重複頻率 10Hz, 3、能量1064nm 60mJ, 532nm 25mJ, 355nm 15mJ, 4、能量穩定性 ±2.0% RMS,5、光斑直徑(1/e2) 8mm, 6、光斑模式TEM00 或平頂7、光斑發散角 (1/e2) ＜1 mrad, 8、偏振比 100:1, 9、光束指向穩定性 ±30 μrad 10、預熱時間 ＜5 分鐘; Z-scan測試系統能夠完成材料非線性吸收、光限幅等非線性特性測量，並進行測試過程自動化，能夠自動記錄測試數據供分析。
主要功能
Z-掃描系統作為一種研究材料非線性光學特性的有效手段，具有測量速度快、光路簡單易搭建，光路易調整，能夠同時測量材料實部和虛部等優點。
