X射線計算機段層掃瞄器

X射線計算機段層掃瞄器

X射線計算機段層掃瞄器是一種用於材料科學領域的醫學科研儀器,於2011年6月9日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X射線計算機段層掃瞄器
  • 產地:英國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2011年6月9日
  • 所屬類別:醫學科研儀器 > 影像診斷儀器 > X射線斷層掃描診斷儀
技術指標,主要功能,

技術指標

採用最新的納米技術的“開放式專利的XI型光管;Revolution的160KV,焦點尺寸1微米,最小解析度可以到達250納米,幾何放大倍數2400倍,系統放大倍數36000倍;光管和圖像吸收器增強器可以同時傾斜,而且達到75度; XTV160採用雙顯顯示技術,同時擁有先進的操作軟體和圖像處理軟體,可以進行分析、判定、測量、計算、編程等等功能;CT組件,可進行CT掃描。

主要功能

材料結構和形貌分析、重建。

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