X射線晶體結構分析

利 JHX射線與晶體間產生的衍射效應對晶體結構進行解析。 其基本原理與主體技術〔使用單晶與單色X射線)可概括為 與正 、反傅立葉變換對應的兩個方面:(1)以單色的X射線作 用於轉動的單晶 利用基於相干散射的衍射效應與單晶衍射 儀 將與正格空間對應的晶體結構以正變換導出與倒格空間 對應的衍射強度數據組;( 2)以衍射強度實驗數據為基礎。通 過反變換的傅立葉頤數計算及位相的理論處理，使晶體結構 以解析或圖像的方式呈現。