晶體結構測定方法

晶體結構測定方法

晶體結構測定方法,crystal structure determination,即利用晶體 X射線衍射可測定晶體結構。但衍射實驗只能測得衍射強度(即結構振幅)而測不到相角,這樣就不可能直接從強度得到晶體結構數據,而要利用其他方法。

基本介紹

  • 中文名:晶體結構測定方法
  • 外文名:crystal structure determination
  • 方式:用晶體 X射線衍射可測定晶體結構
  • 測試方法: 直接法 模型法
測試方法,發展歷程,

測試方法

直接法
直接從實驗得到X射線強度,利用一系列數學處理,推引出結構因子相角,實現了直接和自動化測定晶體結構,成為當前測定中小分子結構的主流方法。
試差法(模型法)利用晶體的對稱性和其他性質以及結構規則,對所研究的結構提出合理的模型,然後從理論上計算晶體的衍射強度,再把計算值與實驗值進行比較,多次修正模型,使計算值與實驗值儘可能符合。

發展歷程

20世紀30年代A.L.帕特森提出利用結構振幅的平方作為傅立葉級數的係數,進行傅立葉計算,得到帕特森函式圖。在圖上,峰的位置表示晶胞內原子間向量的位置,分析該圖提供的信息,特別是當結構中存在少數重原子的情況下,可以直接推出晶體結構。60年代出現了可供套用的直接法

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