| 中文名稱 | X射線形貌術 |
| 英文名稱 | X-ray topography |
| 定 義 | 根據X射線在晶體中衍射襯度變化和消像規律，檢查晶體材料及器件表面和內部微觀結構缺陷的一種方法。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | X射線形貌術 |
| 英文名稱 | X-ray topography |
| 定 義 | 根據X射線在晶體中衍射襯度變化和消像規律，檢查晶體材料及器件表面和內部微觀結構缺陷的一種方法。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |