X射線吸附粉末同步分析系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2019年11月22日啟用。
X射線吸附粉末同步分析系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2019年11月22日啟用。技術指標9KW,溫度範圍70-370K。1主要功能將氣體吸附儀和X射線衍射儀進行一體化設計，實現動態程式變溫的原位物相影響的...
粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2003年12月1日啟用。技術指標 功率2/3kW; 穩定度≤0.005%，最快定位速度：1000˚/min，角度重現性：0.0001˚，最小步長：0.002˚(θ)，閃爍計數器線性範圍：2 x 10^6。主要功能 銳影能夠在不破壞樣品結構下獲得詳細的化學組成、製造材料的晶體結構。
指標信息： 發生器最大功率：18kW(40kV-450mA) 左、右兩台衍射儀。由兩台計算機分別控制，可同時進行測量分析。 計數率線性範圍：1000kCPS。 探測系統暗本底：附屬檔案信息： 右衍射儀：帶Ge彎晶前單色器，去除Dα2射線。具有5°及2.5°兩套索拉狹縫。具有可變自動狹縫系統。左衍射儀：帶自動換樣器，帶樣品旋轉...
變溫全自動組合粉末多晶X-射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2014年6月1日啟用。技術指標 該設備是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它採用了理學獨創的CBO交叉光學系統，一台儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。採用組合式結構，通過對各個單元的不同組合，...
X射線粉末衍射法指的是在X射線衍射分析中，採用單色X射線對粉末狀多晶樣品進 行衍射分析的一種方法。多晶試樣大多數情況是多晶粉末， 也可以是多晶片或絲。衍射線條的位置、強度，可用德拜法、 聚焦法或針孔法等照相記錄。粉末法主要用於物質鑑定、晶 體點陣常數、多晶體的結構、晶粒大小、高聚物結晶度測定等。
X射線衍射成像系統 X射線衍射成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年12月11日啟用。技術指標 測試角度從4-100，解析度比一般衍射儀高一倍。主要功能 對粉末材料進行X射線衍射分析。
X射線衍射系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2015年12月7日啟用。技術指標 X射線高壓發生器：最大輸出功率：≥4KW；最大管電壓：≥60KV；最大管電流≥60mA； X射線燈管：最大電壓：≥60KV；最大電流≥60mA 測角儀：掃描半徑：≥600mm 最小步進角：+-0.0001° 掃描速度：0.1s-10s/step。主...
《X射線螢光光譜儀在線上自動分析系統》是由地質礦產部 瀋陽綜合岩礦測試中心擔任第一完成單位，由才書林、郭玉林、李潔擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 本在線上自動分析系統用IBM386計算機取代了Rigaku 3080型X射線螢光光譜儀原來所配的PDP-11/03L計算機或SORD M243計算機；重新設計了硬體接口，實現了IBM ...
A．樣品種類：固體﹑液體﹑粉末﹑鍍層。B．樣品托盤：可自動旋轉的測量裝置。C．樣品室的環境：可選擇空氣﹑真空﹑氦氣。由軟體自動控制，無需人工操作。2. 激發系統 激發系統採用獨特的倒置直角光學結構設計。以50KV的低功率X射線發生器作為激發源，從X射線管產生的初級X射線通過濾光片後直接激發樣品，通過選擇激發...
