利用X電離輻射,測量並顯示物體厚度的儀表。
中文名稱 | X射線厚度計 |
英文名稱 | X-radiation thickness meter |
定 義 | 利用X電離輻射,測量並顯示物體厚度的儀表。 |
套用學科 | 機械工程(一級學科),工業自動化儀表與系統(二級學科),機械量測量儀表-機械量測量儀表名稱(三級學科) |
利用X電離輻射,測量並顯示物體厚度的儀表。
中文名稱 | X射線厚度計 |
英文名稱 | X-radiation thickness meter |
定 義 | 利用X電離輻射,測量並顯示物體厚度的儀表。 |
套用學科 | 機械工程(一級學科),工業自動化儀表與系統(二級學科),機械量測量儀表-機械量測量儀表名稱(三級學科) |
利用X電離輻射,測量並顯示物體厚度的儀表。...
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,採集計算數據並輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,已達到要求的軋制厚度。產品介紹 X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的...
X射線厚度計 X射線厚度計的工作原理是通過測量透過板材的X射線強度來確定厚度。X射線束細,回響速度快,切斷電源後X射線立即消失。因此,這種厚度計使用和儲存均比核輻射式方便和安全,而且因被測板材表面可能存在的水膜引起的誤差比較小。渦流式厚度計 為減少被測材料在運動中因抖動引起測量結果的誤差,故採用差動...
螢光X射線測厚儀是一種功能強大的材料塗/鍍層測量儀器,可套用於材料的塗/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供準確、快速的分析。基於Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLinkFP套用軟體包,實現了對cmi900/950主機的全面自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多...
反散射厚度計 反散射厚度計(backscatter thickness meter)是2014年公布的放射醫學與防護名詞。定義 根據射線的反散射原理製成的用於測量管道壁厚的攜帶式同位素儀表。主要用於測量塗層、鍍層厚度以及只能從一側接近待測物時物體的厚度。有X射線、γ射線、β射線反散射厚度計。出處 《放射醫學與防護名詞》第一版。
因陽極溶解的方法不同,被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恆定電流密度溶解時,可由試驗開始到試驗終止的時間計算;用非恆定電流密度溶解時,由累積所耗電量計算,累積所耗電量由電量計累計顯示。X-ray 方法 X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基於一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互...
日本精工SFT9200 X射線螢光鍍層厚度測量儀。基本信息 日本精工SFT9200 X射線螢光鍍層厚度測量儀 「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業績的「SFT系列」(操作性與可靠性共存)的優點,並不斷地發展,成為可對應較廣套用範圍的X射線螢光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。產品副名稱:套用範圍較廣的標準型鍍層厚度測量...
1、雷射測厚儀是利用雷射的反射原理,根據光切法測量和觀察機械製造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度,是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數位訊號與工業計算機相連線,並迅速處理數據並輸出偏差值到各種工業設備。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的...
X射線螢光分析儀和中子活化分析儀廣泛用於材料成分分析、環境樣品分析、考古分析和法醫鑑定等方面。利用不同物質對核輻射有不同的吸收和反射特性,在樣品被輻射源照射時測定透射或反射的輻射強度,可以測定樣品的厚度或密度(如測量鋼板、紙張和貴金屬鍍層的厚度或焦炭的密度等)。這種儀器稱為輻射厚度計或密度計,它...
厚度測量儀表 主要用以測量板材、帶材、管材、鍍層和塗層厚度的儀表。測量結果為某面積內厚度的平均值。常用的有電感式、高頻渦流式、微波式、核輻射式、X射線式和氣動式厚度計。振動測量儀表 常用的有壓電式加速度測量儀表、磁電式速度測量儀表、渦流式位移測量儀表和電位器式位移測量儀表。測量方法 ①利用所測量的...