TESCAN鎢燈絲掃描電鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年1月2日啟用。
基本介紹
- 中文名：TESCAN鎢燈絲掃描電鏡
- 產地：捷克
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2008年1月2日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
切高真空下的解析度： 二次電子： （30KV下3.0nm，3KV下8.0nm。）背散射電子圖像：（30KV下3.5nm，可以偵測到0.1平均原子序差異）放大倍數：4x—1,000,000x 加速電壓：200V至30KV。 高真空下的解析度： 二次電子： （30KV下3.0nm，3KV下8.0nm。）背散射電子圖像：（30KV下3.5nm，可以偵測到0.1平均原子序差異）放大倍數：4x—1,000,000x 加速電壓：200V至30KV。
主要功能
具有高解析度電子成像功能，可對金屬、非金屬和納米材料等試樣的表面形貌、狀態直接進行觀察照相研究，可獲得二次電子圖象、背散射電子圖像等。
