TDM-300石英晶體膜厚儀

DM-300石英晶體膜厚儀:一種監控裝置

基本介紹

  • 中文名:TDM-300石英晶體膜厚儀
  • 頻率顯示精度:0.1Hz
  • 測量速率 :10Hz
  • :99層
基本信息,基本參數,

基本信息

TDM-300膜層監控儀適用於高頻濺射、直流濺射、電阻蒸發、離子束、電子束等鍍膜套用場合,可對共沉積鍍膜進行多源同步監控,或對大面積鍍膜進行多點監控。
儀器提供了完備的監測和控制功能, 具有高速高精度測量系統,保證鍍膜的質量和重複性。通過液晶顯示屏使您能連續獲取沉積數據,包括沉積速率、厚度和晶片頻率。更可通過計算機得到實時數據及動態和靜態數據曲線,方便用戶對工藝過程進行分析。
適用於多種鍍膜套用
TDM-300膜層監控儀可對最多六個沉積源同時進行監控。既可套用於對大面積鍍膜進行多點監控,監控鍍膜均勻性;也可用於監控共沉積鍍膜,而且用戶可以編輯含有若干共沉積層和單一材料層的膜系;還能作為多台順序沉積監控儀使用

基本參數

▲ 多監控
可以對連續鍍膜以自動或手動兩種方式進行監控。
▲多源監測
可同時或分別監測二、四或六個沉積源。用戶可根據實際需要進行選型。
▲系統接口
具有一組共二、四或六個輸出接口,可分別控制二、四或六個源擋板。用戶可根據實際需要
進行選型。
▲高精度
具有高速高精度測量系統,保證鍍膜的質量和重複性。
數據存儲
提供了較高的數據存儲能力,可存儲99個膜層,並內置256種材料參數方便用戶使用。
中文界面
TDM-300膜層監控儀採用全中文人機操作界面,易於使用。
通用標準配置
有適配電纜,易於安裝至現有的裝置中,方便替換同類產品。
規格
測量
頻率計算精度 0.1Hz/0.03Hz(在6.0MHz頻率時)
頻率顯示精度 0.1Hz
測量速率 10Hz
顯示
厚度顯示 000000A~999999A
速率顯示 000.0~999.9A/s
時間顯示 00:00:00~23:59:59(時:分:秒)
層數 01~99層
圖形顯示 240x64LCD,低功耗LED背光(TDM-200 PRO)
320x240LCD,低功耗LED背光(TDM-300)
存儲能力
 99層
材料庫 已定義256種材料
膜層參數
層次  01~99
終厚  000000~999999埃
材料  分子式
密度  00.00~99.99g/cm3
工具因子 00.00~99.99
Z因子  00.00~99.99
探頭  A、B(C、D、E、F可選)
同步沉積 “否”或 “是” 系統參數
鍍膜方式 “單層”、“多層”
控制方式 “手動”、“自動”
啟動延遲 00:00~99:99(分:秒)
多通道方式 “獨立”或“聯合”
輸出控制能力
源擋板數量  2、4或6個可選
(探頭擋板可共用相應連線埠)
監控能力
 2/4/6 (可選)
通訊接口  標配RS-232串型口
其它
供電要求 220V(±5%),50Hz,
功率<30W
工作溫度 0℃~50℃
儀器尺寸 TDM-300:
89 x 484x330(高x寬x深)
TDM-300:
133.5x484x330(高x寬x深)
可用於19’標準工業機架。

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