選擇性離子檢測(Selected ion Monitor)，又稱單離子監測(Single Ion Monitor)，針對一級質譜而言，即只掃一個離子，其他離子不被記錄。 對於已知的化合物，為了提高某個離子的靈敏度，並排除其它離子的干擾，就可以只掃描一個離子。
基本介紹
- 中文名：選擇性離子檢測
- 外文名：Selected ion Monitor
- 簡稱：SIM
- 又稱：單離子監測
選擇性離子檢測(Selected ion Monitor)，又稱單離子監測(Single Ion Monitor)，針對一級質譜而言，即只掃一個離子。 對於已知的化合物，為了提高某個離子的靈敏度，並排除其它離子的干擾，就可以只掃描一個離子，而其他離子不被記錄。這時候，還可以調整一下解析度來略微調節採樣視窗的寬度。比如，要對500 amu的離子做SIM，較高高分辨狀態下，可以設定取樣寬度為1.0，這時質譜只掃499.5～500.5 amu。還有些高解析度的儀器，可以設定取樣寬度更小，比如0.2 amu，這時質譜只掃499.9～500.1 amu。但對於較純的、雜質干擾較少的體系，不妨設定較低的解析度，比如取樣寬度設為2 amu，這時質譜掃描499～501 amu，如果沒有干擾的情況下，取樣寬度寬一些，待測化合物的靈敏度就高一些，因為噪音很低；但是有很強幹擾情況下，設定較高分辨，反而提高靈敏度信噪比，因為噪音降下去了。
相對於全掃描技術，選擇性離子檢測（SIM）用於定量分析更具優勢。SIM技術使質譜儀將更多的時間用於檢測選定質荷比離子的離子流，因而提高了分析靈敏度。
