PIV粒子成像測速

PIV粒子成像測速是一種用於力學、物理學領域的物理性能測試儀器，於2015年12月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：PIV粒子成像測速
• 產地：美國
• 學科領域：力學、物理學
• 啟用日期：2015年12月9日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒子計數器

技術指標

測速範圍：0~1000m/s 測速區域：不小於500mm*500mm 測量相對精度：1%。

主要功能

研究表征分子結構。