LED基本測試系統是一種用於物理學、自然科學相關工程與技術、產品套用相關工程與技術領域的分析儀器，於2012年5月2日啟用。
基本介紹
- 中文名：LED基本測試系統
- 產地：德國
- 學科領域：物理學、自然科學相關工程與技術、產品套用相關工程與技術
- 啟用日期：2012年5月2日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 光電直讀光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
光譜儀技術指標：光譜範圍: 200-800nm;數據採用間隔: 0.6nm積分時間: 9ms – 60s;線性: 0.5%;光度準確度: ≤± 3.5%;波長準確度: ≤± 0.3nm;色度準確度:（x,y）＜± 0.0015; 積分球技術指標：積分球直徑: 500mm ;有輔助燈裝置及10W自吸收補償的輔助燈;2π配置的測量連線埠及4π測量固定座; 平均光強套筒技術指標：測量距離為100 mm符合CIE條件B； 測角光度計技術指標：包含75cm的光學導軌及光學擋板的完整測量裝置；角度範圍：橫向：+/－ 100°；縱向：360°。
主要功能
測量光通量、光譜功率分布、輻射通量、色品坐標、相關色溫、顯色指數、色品容差、峰值波長、主波長、色純度、半峰頻寬、電壓、電流、功率、平均光強、光色空間分布等光色電參數。
