GB/T 2423.2-2001是2001年由中華人民共和國頒布的電工電子產品環境試驗標準。
基本介紹
- 中文名:GB/T 2423.2-2001
- 出版日期:2002年06月01日
- 頁 數:30
- 開數:16開
GB/T 2423.2-2001是2001年由中華人民共和國頒布的電工電子產品環境試驗標準。
GB/T 2423.2-2001是2001年由中華人民共和國頒布的電工電子產品環境試驗標準。標準內容 本標準敘述的高溫試驗適用於散熱和非散熱兩類試驗樣品。對於非散熱試驗樣品,試驗Ba和Bb基本上不違背早期發行的標準。本高溫試驗的目的僅限於確定件...
2001-11-01 標準狀態 已作廢 替代情況 被GB/T 2423.1-2008代替 目錄 1 目次 ▪ 前言 ▪ 引言 ▪ 第一篇 試驗Aa ▪ 第二篇 試驗Ab 2 第三篇 試驗Ad 目次 編輯 前言 IEC前言試驗A:低溫試驗的歷史概況試驗...
《GB/T 2423.2-2008》是由中國標準出版社出版的一款國家標準。GB/T 2423的本部分規定的高溫試驗適用於非散熱和散熱試驗樣品。中文名 GB/T 2423.2-2008 頁數 15頁 出版社 中國標準出版社 出版日期 2009-10-01 目錄...
———增加了資料性附錄“GB/T2423標準的組成部分”(見附錄NA)。本部分代替GB/T2423.25—1992《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗》。本部分與GB/T2423.25—1992相比主要變化如下:...
GB/T2423.2-2001《電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》GB/T13543-92《數字通信設備環境試驗方法》MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程式》MIL-STD-810F《環境工程考慮與實驗室試驗》MIL-STD-202F《電子及電氣...
2、GB/T2423.2-2001; 3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N; 4. 國軍標GJB150.3-86; 5. 國軍標GJB150.4-86; 6. 國軍標GJB150.5-86; 7、GJB150.5-86溫度衝擊試驗; 8、GJB360.7-87溫度衝擊試驗; 9、GJB367.2-87 40...
GB/T 16649.3-2006 識別卡 帶觸點的積體電路卡 第3部分:電信號和傳輸協定 GB/T 14916 -2006 識別卡 物理特性 GB/T2423.1-2001 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T2423.2-2001 電工電子產品環境試驗 第...
GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術條件 GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術條件 GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術條件 GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法 GB/T 2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法 GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度...
GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法 GB/T 2423.2-2001 試驗B:高溫試驗方法 GB/T2423.22-2002 試驗N:溫度變化試驗方法 試驗Na GJB 150.3-1986 高溫試驗 GJB 150.4-1986 低溫試驗 GJB 150.5-1986 溫度衝擊試驗 (負載參見...
GB/T2421-1999電工電子產品環境試驗第1部分:總則 GB/T2422-1995電工電子產品環境試驗術語 GB/T2423.1-2001電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 GB/T2423.2-2001電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫 ...
超低溫機可以用來考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產品,在低溫環境條件下貯存和使用的適應性,適用於學校,工廠,軍工,研位,等單位。中文名 超低溫機 用途 確定電子產品低溫條件使用性能 執行標準 GB/T2423.1-2001 溫度範圍 ...
電子恆濕試驗機主要用於辦公場所、實驗室等需要恆溫恆濕的環境。產品功能強大,保護完善,能有效地完成升溫、降溫、加濕、除濕等實驗室內溫濕度的恆定。符合標準 本產品滿足GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-2001、GB/T2423.3-1993等國家...
低溫試驗箱滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001等國家標準。製冷工作原理 製冷循環均採用逆卡若循環,該循環由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成,其過程如下:製冷劑經壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之後製冷...
GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89 參數列表 選型 溫度運行控制系統 標準配置 多層加熱觸霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔(25、50mm)1個。安全保護 漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流...
GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89參數列表 選型型號(mm) CLM-WDCJ-100 CLM-WDCJ-300 CLM-WDCJ-500 CLM-WDCJ-010兩箱預冷區尺寸 D×W×H 450×450×500 600×600×600 800×800×800 1000×1000×1000...
恆定濕熱試驗機用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元氣件在高溫或濕熱環境下檢驗其各性能項指標。符合標準: 本產品滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.3-1993 GB/T2423.2-2001等國家標準,以及其它相關...
恆定濕熱箱滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.3-1993 GB/T2423.2-2001等國家標準,以及其它相關標準的要求。符合標準 恆定濕熱箱滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.3-1993 GB/T2423.2-2001等國家標準,以及其它相關標準的要求。技術...
低溫脆化實驗機可以用來考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產品,在低溫環境條件下貯存和使用的適應性,適用於學校,工廠,軍工,科研等單位。產品用途:低溫脆化實驗機滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001等國家標準。箱體結構...
本產品符合GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-2001、GB/T2423.3-1993、GB/T2423.4-1993等國家標準。箱體結構 大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮,且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃,隨時清晰的觀測箱內狀況。配直徑50mm的測試孔,可供外接...
低溫脆化機滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001等國家標準。箱體結構 低溫脆化機箱體採用數控工具機加工成型,造型美觀大方,並採用無反作用把手,操作簡便。箱體內膽採用進口高級不鏽鋼(SUS304)鏡面板,箱體外膽採用A3鋼板噴塑,增加了...
1. GB11158 高溫試驗箱技術條件 2. GB10589-89 低溫試驗箱技術條件 3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件 4. GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術條件 5. GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法 6. GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱...
超低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域必備的測試設備,用於測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、或恆定試驗的溫度環境變化後的參數及性能,低溫範圍從0度到-80度均可,試驗參照標準為:GB/T2423.1、GB/T2423.2...
應滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.3-1993 GB/T2423.2-2001等國家標準,以及其它相關標準的要求。箱體結構 小型恆溫恆濕試驗箱箱體內膽採用進口高級不鏽鋼(SUS304)鏡面板或304B氬弧焊製作而成,箱體外膽採用A3鋼板噴塑。採用微電腦...
◆GB10586-2006濕熱試箱技術條件 ◆GB10589-2006低溫試驗箱技術條件 ◆GB10592-2006高低溫試驗箱技術條件◆GB11158-2006高溫試驗箱技術條件 ◆GB/T2423.1-2001試驗A:低溫試驗方法◆GB/T2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法◆G...