BIST

BIST是在設計時在電路中植入相關功能電路用於提供自我測試功能的技術，以此降低器件測試對自動測試設備（ATE）的依賴程度。

基本介紹

• 中文名：內建自測
• 外文名：Built-in Self Test
• 簡稱：BIST
• 簡介：自我測試功能的技術

簡介

什麼是BIST測試技術？

BIST技術中文名叫內建自測試技術，它可以套用於幾乎所有電路，因此在半導體工業被廣泛套用。舉例來說，在DRAM中普遍使用的BIST技術包括在電路中植入測試圖形發生電路，時序電路，模式選擇電路和調試測試電路。

BIST技術的快速發展很大的原因是由於居高不下的ATE成本和電路的高複雜度。現在，高度集成的電路被廣泛套用，測試這些電路需要高速的混合信號測試設備。BIST技術可以通過實現自我測試從而減少對ATE的需求。

BIST技術也可以解決很多電路無法直接測試的問題，因為他們沒有直接的外部引腳，比如嵌閃。可以預見，在不久的將來即使最先進的ATE也無法完全測試最快的電路，這也是採用BIST的原因之一。

優點

採用BIST技術的優點在於：

1， 降低測試成本

2， 提高錯誤覆蓋率

3， 縮短測試所需時間

4， 方便客戶服務

5， 獨立測試的能力

缺點

1， 額外的電路占用寶貴面積

2， 額外的引腳

3， 可能存在的測試盲點

存在的問題

採用BIST所存在的問題：

1，哪些測試需要BIST完成？

2，最多允許多少額外的面積？

3，需要什麼樣的外部激勵？

4，測試所需時間和效率？

5，BIST是固定的還是可程式的？

6，採用BIST將對現有工序產生什麼影響？

BIST技術大致可以分兩類： Logic BIST(LBIST) 和 Memory BIST (MBIST)

LBIST通常用於測試隨機邏輯電路，一般採用一個偽隨機測試圖形生成器來產生輸入測試圖形，套用於器件內部機制；而採用多輸入暫存器（MISR）作為獲得輸出信號產生器。

MBIST只用於存儲器測試，典型的MBIST包含測試電路用於載入，讀取和比較測試圖形。目前存在幾種業界通用的MBIST算法，比如“March”算法，Checkerboard算法等等。

另一種比較少見的BIST稱為Array BIST，它是MBIST的一種，專門用於嵌入式存儲器的自我測試。Analog BIST則用於模擬電路的自我測試。

BIST技術正成為高價ATE的替代方案，但是BIST技術目前還無法完全取代ATE，他們將在未來很長一段時間內共存。