AIDI (Artificial Intelligent Defect Inspection) 是由北京阿丘科技有限公司開發的一款基於深度學習的工業視覺 AI 平台，套用於多種工業套用場景，有效解決複雜缺陷的定位識別、分類定級及字元識別等問題，具有強大的兼容性。AIDI 內置多種套用模組，無需編程，幫助用戶快速構建和疊代模型，滿足不同業務場景下的差異化需求，助力產業智慧型化升級。
該工業AI視覺檢測軟體平台主要包括四大核心功能模組(定位、分割、檢測和分類)以及OCR字元識別工具包。
基本介紹
- 軟體名稱：AIDI
- 軟體平台：Windows，Linux
- 軟體語言：簡體中文
- 開發商：北京阿丘科技有限公司
- 軟體授權：北京阿丘科技有限公司
- 軟體版本：2.3
主要功能,產品特點,算法特點,所獲榮譽,套用領域,產品形態,
主要功能
- 定位：檢測圖像中的單個或多個目標的位置與角度，可以在目標多樣、姿態多樣等複雜場景中快速查找目標。常用於工件計數、裝配確認、有無判斷等場景；
- 分割：對圖像進行像素級檢測，精準識別缺陷的位置和類別。常用於檢測產品表面細小的缺陷，例如裂紋、劃傷等，是套用最為廣泛的缺陷檢測工具；
- 檢測：對圖像進行區域級檢測，準確識別目標物或缺陷。常用於產品表面成塊缺陷檢測、多目標檢測等場景；
- 分類：判斷整張圖像所屬類別，常用於缺陷分類和產品的分選定級等場景；
- OCR字元識別工具包：對圖像中的字元進行準確定位和高效識別。常用於快速讀取各類複雜場景中產品或元件的字元信息。
產品特點
- 檢測能力強：對形態、紋理等特徵提取能力強，可解決低對比度、缺陷種類眾多、背景複雜、缺陷尺度小等各類複雜檢測問題；
- 完備易用：集標註、訓練、模型調優為一體，圖像化設計支持零代碼構建工程，自由選擇核心AI功能，可滿足不同場景下的差異化檢測需求；
- 硬體要求低：自研核心算法框架，在保證準確率的前提下，降低模型計算複雜度，並支持各種不同的硬體平台；
- 適配性強：適配主流作業系統 (Windows、Linux) 及常用工業視覺軟體，提供標準化接口，支持多種程式語言，可靈活二次開發。
算法特點
- 計算速度快：設計高效輕量的網路結構，推理階段計算圖最佳化，在保證檢測指標的同時，提高訓練速度和推理速度，100張圖像訓練耗時約10min，單張圖像推理30ms以內；
- 檢測精度高：缺陷區域自動重採樣，提升小缺陷關注度，實現細小缺陷的精確檢測，最小可檢測尺寸低至3像素；
- 樣本依賴少：提供數據增廣工具和非監督模組，降低對缺陷樣本的依賴和部署成本，精確識別單類缺陷僅需 30-50張圖像完備易用；
- 支持3D檢測：支持3D格式圖像直接進行標註、訓練和推理。
所獲榮譽
2019機器視覺創新產品 - 特等獎
視覺系統設計創新獎VSDC Innovators Awards 2021 - 銀獎
2021機器視覺創新產品 - Top5
套用領域
消費電子行業，汽車行業，半導體行業，食品行業，傳統製造業
產品形態
- | AIDI推理版 | AIDI訓練版 |
支持的作業系統 | Windows7及以上/Linux(ubuntu\centos\redhat) | |
支持的開發語言 | C++/c#/Java/Python等 | |
支持圖像格式 | PNG、BMP、TIFF等 | |
處理器 | Intel 13+ | Intel 17+ |
顯示卡 | NVIDIA GTX10系列1050+、NVIDIA RTX20系列2060+、NVIDIA RTX30系列、NVIDIA TItan系列等市面主流顯示卡均支持 | |
