| 中文名稱 | 高頻光電導衰退法 |
| 英文名稱 | high frequency measurement of photoconductivity decay method |
| 定 義 | 通過電容將高頻振盪信號耦合到半導體樣品上，在光脈衝照射下，測量信號振幅衰減的時間常數，確定半導體中少數載流子壽命的電學測量技術。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），半導體材料（二級學科），半導體材料性能測試（三級學科） |
| 中文名稱 | 高頻光電導衰退法 |
| 英文名稱 | high frequency measurement of photoconductivity decay method |
| 定 義 | 通過電容將高頻振盪信號耦合到半導體樣品上，在光脈衝照射下，測量信號振幅衰減的時間常數，確定半導體中少數載流子壽命的電學測量技術。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），半導體材料（二級學科），半導體材料性能測試（三級學科） |
中文名稱 高頻光電導衰退法 英文名稱 high frequency measurement of photoconductivity decay method 定義 通過電容將高頻振盪信號耦合到半導體樣品上,在光脈衝照射...
直流光電導衰退法是在光脈衝照射下,測量通以恆定電流的半導體樣品兩端的電壓衰減過程的時間常數,從而確定半導體中少數載流子壽命的電學測量技術。...
7:闕端麟,高頻109μ紅外光電導衰減法測試矽單晶非平衡截流子壽命,浙江大 學學報,1985,2。 [2] 8:闕端麟,高阻探測器級矽單晶,稀有金屬1987,60。 [2] ...
2.2.6高頻光電導衰減法測量Si中少數載流子壽命磁學複合材料3.1軟磁功能複合材料3.1.1軟磁複合材料的磁學基礎3.1.2鐵氧體/無機材料構成的複合材料...