直流光電導衰退法是在光脈衝照射下，測量通以恆定電流的半導體樣品兩端的電壓衰減過程的時間常數，從而確定半導體中少數載流子壽命的電學測量技術。
| 中文名稱 | 直流光電導衰退法 |
| 英文名稱 | direct current measurement of photoconductivity decay |
| 定 義 | 在光脈衝照射下，測量通以恆定電流的半導體樣品兩端的電壓衰減過程的時間常數，從而確定半導體中少數載流子壽命的電學測量技術。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），半導體材料（二級學科），半導體材料性能測試（三級學科） |
套用學科：材料科學技術（一級學科），半導體材料（二級學科），半導體材料性能測試（三級學科）
